人工晶狀體半成品測量儀的原理和優(yōu)勢

更新時間：2018-08-26 點擊次數(shù)：2595

人工晶狀體半成品測量儀的原理：

設(shè)備包括一套由低摩擦系數(shù)材料制造而成的內(nèi)徑誤差在±0.04mm以下的圓柱孔座和一臺度為0.5度的光學(xué)角度測量儀組成。用于測試人工晶狀體在一個處方直徑內(nèi)的支撐眼組織和接近*接觸狀態(tài)。

人工晶狀體半成品測量儀按標(biāo)準(zhǔn)提供一套符合要求的EXCEL格式測試報告軟件，其中已經(jīng)嵌入相關(guān)計算公式。*符合YY0290-2008附錄D相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計完成。

人工晶狀體半成品測量儀的優(yōu)勢：

測量鏡片表面任何區(qū)域的曲率半徑。

測量散光，軸線及殘余散光。

干涉條紋可以體現(xiàn)整個表面的光學(xué)特征。

數(shù)值化和圖形化整個表面的曲率分布。

對刀分析功能能夠提供加工過程中刀具的各種珍貴信息，如刀具精度，是否對準(zhǔn)，是否磨損等。

人工晶狀體半成品測量儀其他優(yōu)勢：

可以輕易分辨細(xì)微的表面缺陷，即便是某些其他設(shè)備不可見的細(xì)節(jié)。

不需要特殊的防震平臺。

可測量樣品的整個表面區(qū)域，包括環(huán)形區(qū)域。

人工晶狀體半成品測量儀的技術(shù)參數(shù)：

測量范圍：3-64mm凸面或凹面

測量精度：優(yōu)于5微米

重復(fù)性：優(yōu)于2.5微米

測量時間：5-8秒（球鏡）