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人工晶狀體光學(xué)偏心測試儀的測量原理：將人工晶狀體置于一個(gè)處方直徑（10或11mm）的夾具內(nèi)后，測量其光學(xué)主體部分的幾何中心和夾具孔座中心之間的偏移距離。 人工晶狀體光學(xué)偏心測量功能已經(jīng)包含在IM-3中，無須單獨(dú)采購。
人工晶狀體光照穩(wěn)定性試驗(yàn)定制夾具SOLAR-8和SOLAR-8A是專為人工晶狀體光照定制的夾具，配合本公司的S-1500e-IOL或S-3000e-IOL設(shè)備使用，可以平放在設(shè)備的測試平臺(tái)上，使待測人工晶狀體穩(wěn)定對(duì)著光源接受長時(shí)間的照射試驗(yàn)。
人工晶狀體光學(xué)傾角測試儀的測量原理：將人工晶狀體置于一個(gè)處方直徑（10或11mm）的夾具內(nèi)后，測量四個(gè)角度（0-90-180-270度）邊緣四個(gè)點(diǎn)的距離和高度，計(jì)算出光學(xué)傾角。 人工晶狀體光學(xué)傾角測量功能已經(jīng)包含在IM-3中，無須單獨(dú)采購。
Brass-IOLA人工晶狀體半成品測量儀于測量人工晶狀體半成品的曲率半徑和分析其表面質(zhì)量。也可用于車床對(duì)刀。
人工晶狀體接觸角測試儀的測量原理：以未壓縮的狀態(tài)作為參考，當(dāng)人工晶狀體被壓縮到一個(gè)處方直徑（10或11mm）時(shí)，即被置入一個(gè)處方直徑的夾具后，測量沿光軸方向的位移（即垂直方向的位移變化） 人工晶狀體壓縮力下軸向位移的測量功能已經(jīng)包含在IM-3中，無須單獨(dú)采購。
Brass-ASIS人工晶狀體半成品測量儀（大批量型）帶有矩陣盤的Brass-IOLA，可以實(shí)現(xiàn)一次性測量幾十個(gè)樣品。
JCF-IOL人工晶狀體投影儀是應(yīng)用于人工晶狀體的高精度光學(xué)投影儀。
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人工晶狀體 檢驗(yàn)設(shè)備